루이스 M. 테르먼이 저술한 『지능 측정: 스탠퍼드 개정판 비네-시몽 지능 척도의 사용법에 대한 설명과 종합 안내서』는 20세기 초에 출간된 학술적 저작이다. 이 책은 지능 측정에 관한 이론적 설명과 함께, 어린이와 성인의 지능을 평가하는 데 사용되는 스탠퍼드 개정판 비네-시몽 척도의 실제 활용 방법을 제공한다. 책에서는 교육적 맥락에서 지능 검사가 어떻게 활용될 수 있는지 논의하며, 학습 장애 진단, 천재성 발견, 그리고 학생들을 교육 시스템 내에서 적절한 곳에 배치하는 데 지능 검사가 갖는 중요성을 강조한다. 이 책의 서문에서는 정확한 평가를 위해 표준화된 지능 검사를 사용할 필요성을 강조하며, 지능 측정이 교육에 미치는 영향에 대해 설명한다. 테르먼은 지능 검사의 역사적 배경을 고찰하면서, 교육 실천에서 종종 학생들 간의 지능 수준 차이를 인정하지 못했기 때문에 많은 아동들이 뒤처지거나 부적절하게 평가받았다는 점을 지적한다. 그는 비네-시몽 척도와 그 개정판이 교육자와 심리학자들에게 아동의 정신 능력을 이해하는 데 신뢰할 수 있는 방법을 제공한다고 설명하며, 개별 학생의 교육적 필요를 과학적인 방식으로 평가하고 대응할 것을 주장한다.