كتاب “قياس الذكاء: شرح ودليل شامل لاستخدام مقياس بينيه-سيمون المعدل والمُطور من قبل جامعة ستانفورد” تأليف لويس إم. تيرمان، هو منشور علمي كُتب في أوائل القرن العشرين. يعتبر هذا الكتاب شرحًا مفصلًا لطرق قياس الذكاء، بالإضافة إلى دليل عملي لتطبيق نسخة ستانفورد المعدلة من مقياس بينيه-سيمون، والذي يُستخدم لتقييم ذكاء الأطفال والبالغين. يناقش الكتاب استخدامات اختبارات الذكاء في السياق التعليمي، مؤكدًا أهميتها في تشخيص صعوبات التعلم واكتشاف المواهب الخاصة، بالإضافة إلى المساعدة في تحديد المستوى المناسب للطلاب داخل النظام التعليمي. يبدأ الكتاب بتقديم موضوعه الرئيسي، وهو قياس الذكاء وتأثيره على التعليم، مع التأكيد على ضرورة استخدام اختبارات الذكاء الموحدة للحصول على تقييمات دقيقة. يستعرض تيرمان السياق التاريخي لاختبارات الذكاء، مشيرًا إلى أن الممارسات التعليمية كثيرًا ما فشلت في أخذ اختلاف مستويات الذكاء بين الطلاب بعين الاعتبار، مما أدى إلى تأخر العديد من الأطفال أو تقييمهم بشكل غير دقيق. كما يوضح الغرض من مقياس بينيه-سيمون وتعديلاته، ويؤكد على أهمية توفير طرق موثوقة للمعلمين وعلماء النفس لفهم القدرات الذهنية للأطفال، مع التشجيع على اتباع نهج علمي في تقييم ومعالجة الاحتياجات التعليمية الفردية.