La medición de la inteligencia: una explicación y una guía completa para el uso de la revisión y extensión de Stanford de la Escala de Inteligencia Binet-Simon”, de Lewis M. Terman, es una publicación científica redactada a principios del siglo XX. Este trabajo sirve tanto como una exposición sobre la medición de la inteligencia como una guía práctica para aplicar la revisión de Stanford de la Escala Binet-Simon, que evalúa el nivel intelectual de niños y adultos. El libro analiza diversas aplicaciones de las pruebas de inteligencia en contextos educativos, destacando su importancia para diagnosticar dificultades de aprendizaje, identificar casos de talento y ayudar a colocar adecuadamente a los estudiantes dentro del sistema educativo. En su introducción, el libro presenta su tema central: la medición de la inteligencia y sus implicaciones en la educación, enfatizando la necesidad de utilizar pruebas estandarizadas para una evaluación precisa. Terman analiza el contexto histórico de las pruebas de inteligencia y señala cómo las prácticas educativas a menudo no tenían en cuenta las diferencias en los niveles intelectuales de los estudiantes, lo que provocaba que muchos niños quedaran rezagados o fueran evaluados de manera inadecuada. Describe el objetivo de la Escala Binet-Simon y su revisión, destacando que proporciona a educadores y psicólogos métodos fiables para comprender las capacidades mentales de los niños, y aboga por un enfoque científico en la evaluación y atención de las necesidades educativas individuales.