Medição da Inteligência: Uma Explicação e um Guia Completo para o Uso da Revisão e Extensão de Stanford da Escala de Inteligência Binet-Simon”, de Lewis M. Terman, é uma publicação científica escrita no início do século XX. Este trabalho serve tanto como uma exposição sobre a medição da inteligência quanto como um guia prático para a aplicação da revisão de Stanford da Escala de Inteligência Binet-Simon, que avalia a inteligência de crianças e adultos. O livro discute várias aplicações dos testes de inteligência em contextos educacionais, destacando sua importância no diagnóstico de dificuldades de aprendizagem, na identificação de talentos e no auxílio na adequada inserção dos alunos no sistema educacional. A abertura do livro introduz o seu tema central: a medição da inteligência e suas implicações para a educação, enfatizando a necessidade do uso de testes padronizados de inteligência para uma avaliação precisa. Terman analisa o contexto histórico dos testes de inteligência, destacando como as práticas educacionais frequentemente negligenciavam as diferenças nos níveis de inteligência entre os alunos, o que resultava em muitas crianças ficarem para trás ou serem subavaliadas. Ele explica o objetivo da Escala de Inteligência Binet-Simon e sua revisão, fornecendo métodos confiáveis para educadores e psicólogos compreenderem as capacidades mentais de uma criança, e defende uma abordagem científica na avaliação e atendimento às necessidades educacionais individuais.