刘易斯·M·特曼所著的《智力的测量：斯坦福修订版比奈-西蒙智力测验的解释与使用指南》是一部发表于20世纪初的科学著作。该书既系统阐述了智力测量的原理，也为实际应用斯坦福修订版的比奈-西蒙智力测验提供了操作指导——这一测验可用于评估儿童及成人的智力水平。书中详细探讨了智力测试在教育领域的多种应用价值，强调了其在诊断学习障碍、识别天赋以及帮助学生合理分配教育资源方面的重要意义。开篇即明确指出了本书的核心主题：智力的测量及其对教育实践的影响，并强调使用标准化智力测验进行准确评估的必要性。特曼还回顾了智力测试的发展历程，指出以往的教育实践往往忽视了学生之间存在的智力差异，导致许多儿童未能得到应有的关注或被错误地评价。他详细阐述了比奈-西蒙智力测验及其修订版的初衷，旨在为教育工作者和心理学家提供可靠的工具，以帮助他们了解儿童的心理能力，并倡导采用科学的方法来评估和满足个体的教育需求。